Surfix F铁基统计型测厚仪
|
特点:
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头.特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测铁基体上涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机
技术参数： |
|
测量范围 |
0-1500µm,0 - 60mils |
|
误差 |
±(1µm+1%读数） |
|
分辨率 |
0.1µm或小于读数的2% |
|
显示 |
背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
|
基体最小面积 |
5mmX5mm |
|
基体最小曲率 |
凸面：1.5mm 凹面：5mm |
|
基体最小厚度 |
F型：0.2mm ,N型： 50µm |
|
校准 |
厂家校准，零校准，校准箔校准 |
|
数据统计（仅限统计型） |
读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，最大值和最小值 |
|
数据存储（仅限统计型） |
最多200个测量数值,可单独调出 |
|
数据值（仅限统计型） |
上下限可调,声音报警 |
|
数据接口 |
红外通讯,IrDA标准 |
|
环境温度/表面温度 |
0-50℃/60℃ （可选配150℃） |
|
电源 |
两节1.5伏五号碱性电池 |
|
仪器尺寸 |
137x66x23mm |
|
符合标准 |
DIN，ISO，ASTM，BS | |
|
